上海德竹芯源科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 激光橢偏儀 SE 400adv 測(cè)量透明薄膜的厚度和折射率指數(shù)，具有測(cè)量速度、亞埃級(jí)別的厚度精度和折射率測(cè)定的精度。多角度測(cè)量允許使用激光橢偏儀 SE 400a...
產(chǎn)品型號(hào)：SE 400adv所在地：上海更新時(shí)間：2024-02-14 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 光譜橢偏儀 SENpro 具有操作簡(jiǎn)單，測(cè)量速度快，能對(duì)不同入射角的橢偏測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行組合分析等特點(diǎn)。光譜范圍為 370 到 1050 nm。SENpro 的光譜...
產(chǎn)品型號(hào)：SENpro所在地：上海更新時(shí)間：2024-02-13 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： SENresearch 4.0 是 SENTECH 新的光譜橢偏儀。每一臺(tái) SENresearch 4.0 光譜橢偏儀都是根據(jù)客戶(hù)具體配置的光譜范圍、選項(xiàng)和現(xiàn)場(chǎng)...
產(chǎn)品型號(hào)：SENresearch 4.0所在地：上海更新時(shí)間：2024-02-12 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： nanoTOF 3 是新一代的 TOF-SIMS，擁有新外觀(guān)、緊湊設(shè)計(jì)，以及更強(qiáng)性能。
產(chǎn)品型號(hào)：nanoTOF 3所在地：上海更新時(shí)間：2023-10-10 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 高分辨率X射線(xiàn)衍射儀，主要用途為測(cè)量 Si, Ge, SiC, GaN, InGaN, AlGaN, GaAs, InP, AlN, GaSb 等化合半導(dǎo)體材料...
產(chǎn)品型號(hào)：XPert3 MRD所在地：上海更新時(shí)間：2023-10-03 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： Strain Viewer 內(nèi)應(yīng)力檢測(cè)儀具備透光材料內(nèi)應(yīng)力分布測(cè)量及缺陷篩查等檢測(cè)功能。
產(chǎn)品型號(hào)：SV50 / SV200所在地：上海更新時(shí)間：2023-09-28 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀（D-SIMS）是使用一次離子束（通常是Cs源）轟擊樣品表面，而產(chǎn)生二次離子，然后用質(zhì)譜分析儀分析二次離子的質(zhì)荷比（m/q），從而得知元素在樣...
產(chǎn)品型號(hào)：ADEPT 1010所在地：上海更新時(shí)間：2023-09-22 在線(xiàn)留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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